一种基于有源钳位反馈型的IGBT过流检测装置及方法(电力电子电路方法 绝缘栅双极性晶体管方法 晶圆晶体方法 半导体方法 芯片方法 集成电路方法 电路板方法 IGBT器件方法)

所属领域:【20年下证 电力电子电路方法 绝缘栅双极性晶体管方法 晶圆晶体方法 半导体方法 芯片方法 集成电路方法 电路板方法 IGBT器件方法】 · 已下证
发明专利
专利号2018100411454
专利类型发明专利
专利状态已下证
专利领域【20年下证 电力电子电路方法 绝缘栅双极性晶体管方法 晶圆晶体方法 半导体方法 芯片方法 集成电路方法 电路板方法 IGBT器件方法】
专利价格****
公开(公告)号2018100411454
IPC分类G01R31/26(2014.01)I;G01R19/165(2006.01)I;H03K17/082(2006.01)I;H03K17/567(2006.01)I
公开日2018-08-10
申请人中国矿业大学
发明人何凤有;耿程飞;张经纬;王强
专利权人中国矿业大学
代理机构徐州市三联专利事务所32220
代理人董开龙
授权公告号CN108387830A
高企状态未报高企
缴费日期2027-02-16

专利摘要

本发明提供一种基于有源钳位反馈型的IGBT过流检测方法,所述方法包括:当IGBT出现过流时,IGBT关断出现电压尖峰,当IGBT两端电压超过有源钳位二极管的击穿电压时,有源钳位电路工作,将IGBT钳位在保护电压上;检测电路有效地提取有源钳位动作时流过TVS支路电流的时间或存在钳位电压的时间并将该时间信号传递给处理器电路;处理器对检测电路传递的信号的时间及次数进行统计;当处理器电路接收到流过TVS支路电流的时间信号或存在钳位电压的时间信号超过系统设置时间时,即可判定IGBT存在过流故障。本发明还提供了一种基于有源钳位反馈型的IGBT过流检测装置。


专利解读

《一种基于有源钳位反馈型的IGBT过流检测装置及方法(电力电子电路方法 绝缘栅双极性晶体管方法 晶圆晶体方法 半导体方法 芯片方法 集成电路方法 电路板方法 IGBT器件方法)》是一发明专利,专利号为 2018100411454,当前法律状态为已下证,由中国矿业大学提出申请,发明人为何凤有;耿程飞;张经纬;王强,公开(公告)日期为2018-08-10,国际专利分类号(IPC)为 G01R31/26(2014.01)I;G01R19/165(2006.01)I;H03K17/082(2006.01)I;H03K17/567(2006.01)I,代理机构为徐州市三联专利事务所32220,高新资质:未报高企,所属技术领域包括:【20年下证 电力电子电路方法 绝缘栅双极性晶体管方法 晶圆晶体方法 半导体方法 芯片方法 集成电路方法 电路板方法 IGBT器件方法】。该专利已下发证书,权利稳定,适合直接办理转让过户,是企业申报高企、项目招投标、质押融资的优质标的。赋翼网提供从选品、尽调、合同签订到官方著录项目变更(过户)的一站式专利转让服务,专业顾问全程协助,确保交易合规、安全、高效。专利摘要:本发明提供一种基于有源钳位反馈型的IGBT过流检测方法,所述方法包括:当IGBT出现过流时,IGBT关断出现电压尖峰,当IGBT两端电压超过有源钳位二极管的击穿电压时,有源钳位电路工作,将IGBT钳位在保护电压上;检测电路有效地提取有源钳位动作时流过TVS支路电流的时间或存在钳位电压的时间并将该时间信号传递给处理器电路;处理器对检测电路传递的信号的时间及次数进行统计;当处理器电路接收到流过TVS支路电流的时间信号或存在钳位电压的时间信号超过系统设置时间时,即可判定IGBT存在过流故障。本发明还提供了一种基于有源钳位反馈型的IGBT过流检测装置。


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